Пакет анализа данных микролитографии, способный подготавлить наборы данных типа Bossung, также известный как матрицы фокус-экспозиции. Ключевые слова: Литография, Фотолитография, Фотореалист, Окно процесса, Критическое Измерение, CD, Боссунг, FEM
история версии
- Версия N/A размещено на 2011-08-11
Несколько исправлений и обновлений - Версия N/A размещено на 2011-08-11
Подробная информация о программе
- Категории: Развития > Других
- Издателя: freedata.sf.net
- Лицензии: Бесплатный
- Цена: N/A
- Версия: Array
- Платформы: windows